電磁兼容測(cè)試
EMC實(shí)驗(yàn)室配置設(shè)備和試驗(yàn)?zāi)芰Γ?span>
1、擁有符合CISPR25的1m法半電波暗室一間及電磁騷擾設(shè)備一套,能進(jìn)行輻射發(fā)射(RE)、傳導(dǎo)發(fā)射—電壓法(CEV)、傳導(dǎo)發(fā)射—電流探頭法(CEC)的測(cè)試。
2、擁有符合ISO 11452-2/9的1m法半電波暗室一間及輻射抗擾度和手持發(fā)射抗擾度測(cè)試設(shè)備一套,能進(jìn)行輻射抗擾度—自由場(chǎng)法(RI)、雷達(dá)波發(fā)射器抗擾度(PTI)的摸底測(cè)試。
3、擁有符合ISO 11452-4/8的屏蔽室一間及大電流注入和磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試設(shè)備一套,能進(jìn)行輻射抗擾度-大電流注入(BCI)、低頻磁場(chǎng)磁場(chǎng)抗擾度(MFI)的測(cè)試。
4、擁有符合ISO 7637標(biāo)準(zhǔn)的瞬態(tài)抗擾度測(cè)試設(shè)備一套、瞬態(tài)傳導(dǎo)發(fā)射設(shè)備一套,能進(jìn)行電源線瞬態(tài)傳導(dǎo)抗擾(CIP)、信號(hào)線耦合/感應(yīng)傳導(dǎo)抗擾(CIS)、瞬態(tài)傳導(dǎo)發(fā)射(CTE)的測(cè)試。
5、擁有符合ISO 10605標(biāo)準(zhǔn)的屏蔽室一間及靜電放電設(shè)備一套,能進(jìn)行靜電放電(ESD)的測(cè)試。
環(huán)境試驗(yàn)
主要試驗(yàn)?zāi)芰Γ焊?span>/低溫試驗(yàn)、溫度沖擊試驗(yàn)、濕熱試驗(yàn)、溫度循環(huán)試驗(yàn)等,滿足大眾、通用、上汽、其他車廠等環(huán)境可靠性試驗(yàn)。
設(shè)備能力:擁有12臺(tái)試驗(yàn)設(shè)備,主要?dú)夂蛟囼?yàn)箱10臺(tái),溫度沖擊箱2臺(tái)。
光電分析測(cè)量
主要試驗(yàn)?zāi)芰Γ河糜跍y(cè)試并分析大功率集成封裝LED、LED模組等產(chǎn)品在不同殼溫下的光色電綜合特性,相對(duì)光譜功率分布,色品坐標(biāo)、主波長(zhǎng)、峰值波長(zhǎng)、光譜純度、色溫、顯色指數(shù)、半寬度、光通量、輻射功率、紅色比色容差、電流、電壓、功率等。
設(shè)備能力:擁有兩臺(tái)HAAS-2000高精度快速光譜輻射計(jì),一臺(tái)ATA-1000自動(dòng)溫控光電分析測(cè)量系統(tǒng)。
尺寸測(cè)量
主要測(cè)量能力:根據(jù)設(shè)計(jì)圖紙要求對(duì)樣件進(jìn)行形位公差等傳統(tǒng)尺寸檢測(cè);非接觸掃描數(shù)據(jù)與產(chǎn)品設(shè)計(jì)CAD模型比對(duì),掃描點(diǎn)云的全尺寸檢測(cè);并對(duì)掃描數(shù)據(jù)進(jìn)行三維實(shí)體建模。
設(shè)備能力:擁有藍(lán)光掃描儀ATOS Core300、手持式探針三坐標(biāo)XM1200,影像坐標(biāo)測(cè)量?jī)xGVC2M等測(cè)量設(shè)備。
金相分析
主要測(cè)試能力:切片分析/金屬鍍層厚度測(cè)量;依據(jù)IPC-TM-650,IPC-A-610,IPC-6012,GM3172-2018及客戶要求進(jìn)行破壞性檢查元器件內(nèi)部結(jié)構(gòu)及互配情況,執(zhí)行金屬鍍層、IMC厚度測(cè)量,焊錫空洞率的測(cè)量。
設(shè)備能力:配有自動(dòng)精密切割機(jī)JMQ-60Z1臺(tái),金相試樣拋光機(jī)PG-2B 2臺(tái),蔡司光學(xué)顯微鏡VertA1 1臺(tái)。
無(wú)傷探測(cè)
主要測(cè)試能力:用于監(jiān)控LED封裝內(nèi)部焊線結(jié)構(gòu)有無(wú)異常,SMT車間過(guò)程控制;通過(guò)2D透視不能呈現(xiàn)的失效狀態(tài),可以通過(guò)斷層掃描的方式呈現(xiàn)出來(lái),內(nèi)部結(jié)構(gòu)三視觀察;無(wú)損失效分析觀察;鍍層膜厚尺寸測(cè)量等。

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